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Innover pour un avenir durable

Institut polytechnique de Grenoble

Grenoble Institute of Engineering
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20th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW)

Publié le 27 mars 2015
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du 24 juin 2015 au 26 juin 2015
Université Pierre et Marie Curie, Paris.

Le rôle des systèmes nanoélectroniques s’étend rapidement à tous les aspects de notre vie moderne. L’une des principales limitations de ces systèmes est le test post-fabrication de leurs fonctions analogiques, de signaux mixtes, de radiofréquence ou MEMS qui doit garantir la qualité sans pour autant sacrifier le rendement.

Conférence,-réunion-©-kasto---Fotolia-66825250.png

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Tester ces fonctions représente une large part du coût total de fabrication. Les causes de cette prépondérance sont diverses: la demande pressante d’un niveau de défauts de zéro parts-par-million, les fréquences d’opération croissantes, la densité d’intégration, la difficulté d’observer et de contrôler les circuits embarqués, l’intégration de dispositifs hétérogènes sur un substrat commun, le recours à des équipements spécialisés extrêmement coûteux, les nouveaux mécanismes de dégradations et la variabilité croissante des processus de fabrication pour les nœuds technologiques les plus récents, la durée excessive des tests, etc.

De surcroit au problème du test post-fabrication, les systèmes modernes dont la fonction est critique pour la sécurité ou pour la mission ainsi que les systèmes opérés à distance doivent être équipé de capacités d’autotest, de détection simultanée et de tolérance aux erreurs de manière à appréhender le plus tôt possible les risques de fiabilité pour garantir un fonctionnement correct même dans des environnements hostiles. Pour ces systèmes, le diagnostic des erreurs qui se produisent sur le terrain est d’une importance vitale pour pouvoir appliquer les corrections adéquates et prévenir leur répétition. Le diagnostic est également vital sur les premiers prototypes pour réduire le nombre d’itérations de processus de conception, pour identifier les principales causes d’erreurs au niveau du processus de fabrication et ainsi pouvoir améliorer le rendement des futures générations de produits.

International Mixed-Signals Testing Workshop  est l’un des principaux forums qui rassemblent la communauté du test pour discuter des idées et des points de vue sur les différents défis cités ci-dessus. Le cadre du workshop s’étend, entre autres, aux thématiques suivantes:
  • Génération du test
  • Modélisation et simulation d’erreurs
  • Estimation des métriques de test
  • Autoréparation et auto-adaptation
  • Built-in self-test
  • Design-for-test
  • Diagnostic d’erreurs
  • Analyse des défaillances
  • Caractérisation de défauts
  • Technologie des ATE
  • Economie du test et optimisation du rendement
  • Test simultané
  • Tolérance aux erreurs
  • Fiabilité et design-for-reliability

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mise à jour le 27 mars 2015

Univ. Grenoble Alpes