Soutenance de Florian DOMENGIE

Publié le 9 février 2011

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Soutenance

15 février 2011 à 10h30. Etude des défauts électriquement actifs dans les matériaux des capteurs d’image CMOS .

15 février 2011 à 10h30. Soutenance de Florian DOMENGIE pour une thèse de doctorat de l'Université de Grenoble, spécialité Micro et Nano Electronique intitulée : Etude des défauts électriquement actifs dans les matériaux des capteurs d'image CMOS .

Lieu : Amphithéâtre M001 - Phelma Minatec (3, Parvis Louis Néel, Grenoble)

Thèse préparée dans le laboratoire Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique (IMEP) et sur le site STMicroelectronics de Crolles, sous la direction conjointe de M. Daniel BAUZA, M. Pierre MORIN et M. Jorge Luis REGOLINI.

Présentation rapide de la thèse

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mise à jour le 9 février 2011

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